對于要求較髙的金屬管體線材探傷，一般采用旋轉(zhuǎn)點(diǎn)式渦流探傷，這主要由于該方法具有較高的檢測靈敏度。

然而在實(shí)際檢測中，探頭與被檢金屬管棒線材之間的距離不可避免會發(fā)生變化。

由于旋轉(zhuǎn)點(diǎn)式渦流探頭的激勵磁場在空間中隨距髙底減很快，所以微小的提離間隙波動都會對檢測靈敏度產(chǎn)生很大的影響。這就是在渦流探傷中經(jīng)常遇到的提離效應(yīng)。

提離效應(yīng)在金屬管棒線材點(diǎn)式渦流探傷中是一種有害而無益的負(fù)效應(yīng)，往往會引起漏檢和誤報。

抑制提離效應(yīng)雖已取得了一些成果，例如改 變線圏性能、機(jī)械跟蹤法、使用多頻檢測技術(shù)等，但效果都不是十分理想。

其原因要么是抑制手段與提高間隙之間不存在的函數(shù)關(guān)系，要么雖然測定出提離間隙后機(jī)械跟蹤，但抑制補(bǔ)償手段跟不 上。

1.旋轉(zhuǎn)渦流探傷的工作原理

兩個旋轉(zhuǎn)點(diǎn)式探頭圍繞著被檢材 料(管、線材等)做高速旋轉(zhuǎn)，對被檢材料的表面做渦流探傷。

2.采用周向靈敏度補(bǔ)償?shù)脑?br/>

(1)在實(shí)際的探傷過程中，被檢材料在通過旋轉(zhuǎn)點(diǎn)式探頭的時候，需經(jīng)過兩組保護(hù)導(dǎo)套，每一組導(dǎo)套裝有兩個導(dǎo)嘴，導(dǎo)嘴內(nèi)徑比被檢材料的外徑大0.1mm-0.4mm。被檢材料一般都帶有一定的彎曲度，當(dāng)被檢材料穿過導(dǎo)嘴的時候，是靠近導(dǎo)嘴的一邊經(jīng)過的。因此，被檢材料表面到探頭之間的周向間距差為0-0.4mm。如果被檢材料的傳送不理想或是材料直徑有偏差就會導(dǎo)致被檢材料和旋轉(zhuǎn)點(diǎn)式探頭之間的間隙有偏差。

(2)當(dāng)被檢材料距離探頭近時，探傷靈敏度高；距離探頭遠(yuǎn)時，靈敏度低。在檢測過程中，如果沒有間隙補(bǔ)償，周向靈敏度差非常大，甚至?xí)^8dB以上。

因此探傷結(jié)果會出現(xiàn)很大的差異，在實(shí)際工作中取樣分析，有些傷顯然會被漏檢，而有些打上探傷標(biāo)記的傷點(diǎn)卻找不到明顯的缺陷。

在用標(biāo)準(zhǔn)試樣進(jìn)行測試時，旋轉(zhuǎn)點(diǎn)式探頭和被檢材料之間不同間隙下沒有間隙補(bǔ)償?shù)臉?biāo)準(zhǔn)人工缺陷的探傷信號卻幅度。

3.間隙補(bǔ)償?shù)脑?br/>

(1)在旋轉(zhuǎn)點(diǎn)式探頭上加裝一個間隙補(bǔ)償繞組，專門用于測量間隙。

在間隙補(bǔ)償繞組上信號強(qiáng)的時候，被檢材料與探頭的間隙小；信號弱時.被檢材料與探頭的間隙大。

(2)在電路上設(shè)置一個間隙補(bǔ)償通道，間隙補(bǔ)償?shù)年P(guān)鍵是調(diào)節(jié)渦流信號的平衡，渦流探傷儀會在電路中建立一個平衡函數(shù)，根據(jù)間隙補(bǔ)償繞組上感應(yīng)到的信號大小處理檢測到的缺陷信號，間隙較大，點(diǎn)式探頭靈敏度較小，補(bǔ)償提升了測量通道的放大倍率。間隙較小，點(diǎn)式探頭靈敏度較大；補(bǔ)償降低了測 量通道的放大倍率。

(3)點(diǎn)式探頭和被檢材料之間不同間隙下有間隙補(bǔ)償?shù)臉?biāo)準(zhǔn)人工的陷信號幅度，間隙補(bǔ)償使評價信號不受間隙偏差的影響。

結(jié)論

利用間隙補(bǔ)償繞組測定提離間隙的大小、并根據(jù)預(yù)先再到的提離效應(yīng)關(guān)系對檢測信可加以補(bǔ)償修正，是一種新的抑制提離效應(yīng)的方法，它較之傳統(tǒng)的抑制提離效應(yīng)的方法，補(bǔ)償?shù)膭討B(tài)范圍大、精度高、效果明顯。